半導体再生検査装置・X線検査

半導体再生後の検査

CloudTesting Serviceがオンデマンドで提供しているサービスを利用してお客様の問題を解決いたします。当社では、実装前に小型テスト端末ＣＸ1000を活用して電気特性チェックを実施して、再実装後の不良を限りなく、低減しております。

• メモリデバイスの動作不良でのお困りを解決
• メモリデバイスの取り外し、電気的特性チェック　＜オープン・ショートチェック（断線、短絡確認）＞
• メモリデバイスの機能チェック、動作マージンチェック
• 測定基板のカスタム設計もいたします！
• 再実装についてもお気軽にお問合せ下さい！！

概要

基板に実装されたデバイスを取り外し、電気的特性をチェック

X線検査

Ｘ線装置を使った製品検査を実施しているほか、製品、電子部品などのＸ線検査、X線撮影も承っております。